Ove en 60749 28 1 3 2018
OVE EN 60749-28 1.3.2018
Platná norma OVE EN 60749-28 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2017) (deutsche Fassung)
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OVE EN 60749-3 1.2.2018
Platná norma OVE EN 60749-3 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2017) (deutsche Fassung)
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