E ove onorm en 60749 27 a1 15 10 2011
E ÖVE/ÖNORM EN 60749-27/A1 15.10.2011
Neplatná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-27/A1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 47/2107/CDV) (Amendment)
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