Bs en 60749 23 2004 a1 2011 24 6 2004
BS EN 60749-23:2004+A1:2011 24.6.2004
Platná norma BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. )
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